成像光譜儀的譜線(xiàn)波長(zhǎng)范圍由光電倍增管的性能決定

更新時(shí)間：2024-03-11

點(diǎn)擊次數(shù)：1914

　　用成像光譜儀做分析，可使用的譜線(xiàn)波長(zhǎng)范圍較寬。這個(gè)范圍由光電倍增管的性能決定。由于PMT對(duì)信號(hào)的放大能力很大，對(duì)于強(qiáng)弱不同的譜線(xiàn)所用的可用不同的放大倍數(shù)。相差可達(dá)10000倍。因此，光電法可用同一分析條件對(duì)樣品中許多元素進(jìn)行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時(shí)分析。

　　樣品夾可以各個(gè)方向移動(dòng)，配有安全接地電路，確?？焖贅悠非袚Q，各種異型大尺寸工件可以方便地測(cè)試，可以選配的小樣品分析工作曲線(xiàn)。成像光譜儀構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫，一個(gè)色散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域，并在選定的波長(zhǎng)上進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。成像光譜儀地面目標(biāo)物的輻射能通過(guò)指向鏡，由物鏡收集并通過(guò)狹縫增強(qiáng)準(zhǔn)直照射到色散元件上，經(jīng)色散元件在垂直條帶方向按光譜色散，用會(huì)聚鏡會(huì)聚成像在傳感器使用的二維CCD面陣列探測(cè)元件被分布在光譜儀的焦平面上。

　　提供快速、簡(jiǎn)單、可重復(fù)、且更重要的是無(wú)損傷的定性定量分析，它無(wú)需樣品準(zhǔn)備，樣品可直接通過(guò)光纖探頭或者通過(guò)玻璃、石英、和光纖測(cè)量。在垂直方向觀(guān)察時(shí)，除了與原入射光有相同頻率的瑞利散射外，還有一系列對(duì)稱(chēng)分布著若干條很弱的與入射光頻率發(fā)生位移的拉曼譜線(xiàn)。由于拉曼譜線(xiàn)的數(shù)目，位移的大小，譜線(xiàn)的長(zhǎng)度直接與試樣分子振動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)有關(guān)。成像光譜儀因此，與紅外吸收光譜類(lèi)似，對(duì)拉曼光譜的研究，也可以得到有關(guān)分子振動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)的信息。

上一條讓我們來(lái)深入了解下成像光譜儀
下一條成像光譜儀的主要功能模塊及其特點(diǎn)